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X 射線發(fā)射譜（X-ray Emission Spectroscopy, XES）是一種通過(guò)分析材料中X 射線發(fā)射過(guò)程中能量分布，深入研究物質(zhì)電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)狀態(tài)的技術(shù)。

近日，JJ X-Ray首席執(zhí)行官Christian及應(yīng)用專家與麥迪森科技團(tuán)隊(duì)一行訪問(wèn)了中國(guó)散裂中子源（CSNS），致力于解決用戶在使用位移臺(tái)產(chǎn)品過(guò)程中遇到的問(wèn)題。

JJ X-Ray提供的CRL系統(tǒng)多采用拋物線形透鏡，可搭配五軸調(diào)整平臺(tái)（5 Axis Alignment Stage），實(shí)現(xiàn)對(duì)透鏡方向5個(gè)自由度的調(diào)節(jié)，即俯仰角（Pitch）、偏航角（Yaw）及X、Y、Z三個(gè)方向位置的調(diào)節(jié)。

在進(jìn)行同步輻射相關(guān)實(shí)驗(yàn)時(shí)，為了獲得較高的空間分辨率，通常需要利用聚焦元器件將X射線進(jìn)行聚焦。

在同步輻射光源中，通常使用的是超高真空狹縫。X射線根據(jù)其光束模式一般可分為三類：白色光束（White Beam）、粉紅色光束（Pink Beam）和單色光束（Monochromatic Beam）。

本周四，JJ X-Ray公司應(yīng)用專家孫兆宗博士在中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)做了專題報(bào)告——“為同步輻射光源提供完整光束線解決方案”。

近日，JJ X-Ray在高能同步輻射光源（HEPS）現(xiàn)場(chǎng)順利交付一批狹縫產(chǎn)品，其中包括多種型號(hào)的空氣狹縫和超高真空狹縫，如IB-C30-AIR和IB-C30-UHV。

JJ X-Ray可提供在真空環(huán)境下使用的狹縫產(chǎn)品。

JJ X-Ray提供多種類型的狹縫。根據(jù)不同的使用環(huán)境，這些狹縫可分為空氣狹縫（AIR）、高真空狹縫（<10-5mbar）（High Vacuum, HV）和超高真空狹縫（<10-8mbar）（Ultra High Vacuum, UHV）。

同步輻射光源是指電子以接近光速在磁場(chǎng)中做曲線運(yùn)動(dòng)時(shí)，在切線方向上發(fā)射出的電磁輻射。